Denne standard fastl?gger regler og fremgangsm?der for m?ling af overfladeruhedsparametrene Ra, Ry og Rz ved anvendelse af tastsnitinstrumenter med konsekutiv profiltransformation, og m?lesystemer med datamat, hvor disse anvendes i instrumentet.
Note — Overf laderuhedsparametrene Sm, S og tp vil blive behandlet, n?r der er opn?et enighed om regler og fremgangsm?der for disses m?ling.
DS/ISO 4288:1986 history
1986DS/ISO 4288:1986 Rules and procedures for the measurement of surface roughness parametres using stylus instruments