NF EN IEC 60749-28:2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif

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NF EN IEC 60749-28:2022

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2022

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Association Francaise de Normalisation

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NF EN IEC 60749-28:2022

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• 2022 NF EN IEC 60749-28:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif