NF EN IEC 60749-41:2020
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 41 : méthodes d'essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile

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NF EN IEC 60749-41:2020

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2020

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Association Francaise de Normalisation

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NF EN IEC 60749-41:2020

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• 2020 NF EN IEC 60749-41:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 41 : méthodes d'essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile