NF EN IEC 60749-37:2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37 : Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre

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NF EN IEC 60749-37:2022

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2022

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Association Francaise de Normalisation

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NF EN IEC 60749-37:2022

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• 2022 NF EN IEC 60749-37:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37 : Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre